Archiv Rundschau

Ermittlung von Stickies mittels Nahinfrarot-Messtechnik

Mittels Nahinfrarot-Kamera werden klebende und nicht-klebende Verunreinigungen zuverlässig und genau ermittelt.
Foto: Voith

In Zusammenarbeit mit der Papiertechnischen Stiftung (PTS) Heidenau führt Voith ein neues Messverfahren zur Erkennung von unerwünschten, klebenden Verunreinigungen, sogenannten Stickies, ein. Im Vergleich zu den in der Papierindustrie etablierten Verfahren ermittelt die Messtechnik mittels Nahinfrarot (NIR) umfangreichere Informationen der Verunreinigungen mit einer hohen Messgenauigkeit. Die gemessenen spektralen Informationen werden mit Werten von bekannten Verunreinigungen verglichen und zugeordnet, wodurch die Verunreinigungen basierend auf ihrer chemischen Zusammensetzung weiter klassifiziert werden können. Des Weiteren können neben klebenden auch nicht-klebende Verunreinigungen mit der neuen NIR-Messtechnik erkannt und klassifiziert werden.

Da bei dem neuen Messverfahren auf
Laborblätter zurückgegriffen wird, die durch einen Laborblattbildner erstellt werden können und sowohl Fasern als auch Stickies enthalten, entfallen zahlreiche Zwischenschritte bei der Probenvorbereitung. So müssen die in einer Stoffprobe enthaltenen klebenden Verunreinigungen beispielsweise nicht mehr aufkonzentriert werden, um diese analysieren zu können. Die Vorbereitungszeit für die Laborblattbildung ist deutlich kürzer und die Messung weniger fehleranfällig als bei herkömmlichen Verfahren. Neben Stoffproben können auch Fertigpapierproben ausgewertet werden.

Die neue Messtechnik steht im Heidenheimer Technology Center des Technologiekonzerns sowohl für F&E-Aktivitäten des Unternehmens als auch für Kundenversuche zur Verfügung.

Des Weiteren kann sie bei Serviceeinsätzen und Kundenaudits genutzt werden. Als erstes Unternehmen in der Papierindustrie greift Voith auf das von der PTS Heidenau entwickelte Messgerät zurück. ■